Eksma 光學平面--光學元件

簡要描述：Eksma 光學平面--光學元件
光學平面用于測試和評估其他光學元件。在公寓和被評估對象之間的空氣中會形成干涉圖案，通常通過公寓而不是通過對象可以看到這種圖案。圖案由交替的亮帶和暗帶或條紋組成，它們是氣膜厚度的輪廓圖。如果光學元件的表面比要評估的表面明顯平坦，則將干涉圖樣直接解釋為要評估的表面的輪廓圖是正確的。

產(chǎn)品品牌：Eksma
廠商性質：代理商
更新時間：2021-03-23
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詳細介紹

品牌	Eksma	價格區(qū)間	面議
組件類別	光學元件	應用領域	醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,電子/電池,綜合

Eksma 光學平面--光學元件

光學平面用于測試和評估其他光學元件。我們提供單面光學平面，其參考面的平坦度為λ/ 20 @ 633 nm。

產(chǎn)品介紹

Ø參考面的平面度：λ/ 20

Ø非常適合測試和評估其他光學組件

光學平面用于測試和評估其他光學元件。在公寓和被評估對象之間的空氣中會形成干涉圖案，通常通過公寓而不是通過對象可以看到這種圖案。圖案由交替的亮帶和暗帶或條紋組成，它們是氣膜厚度的輪廓圖。如果光學元件的表面比要評估的表面明顯平坦，則將干涉圖樣直接解釋為要評估的表面的輪廓圖是正確的。

如果將平面用于對象的頂部，并且通過平面看到干涉圖案，則在平面的頂表面（不接觸被評估對象的表面）上具有抗反射鍍膜是有利的。

產(chǎn)品型號

型號	直徑D	厚度T
230-1208E	ø 25.4 mm	8.0 mm
230-1208M	ø 25.0 mm	8.0 mm
230-1410E	ø 38.1 mm	10.0 mm
230-1410M	ø 40.0 mm	10.0 mm

材料	UV FS
直徑公差	+0.00, -0.12 mm
一表面平整度：	λ/20 @ 633 nm
二表面平整度：	2 λ @ 633 nm
厚度公差	±0.2 mm

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